久久超碰99,91一区二区三区四区,精品捆绑调教一区二区三区,日韩国产欧美三级

<dfn id="vqm6n"></dfn>

預(yù)存

登錄注冊(cè)

Document

當(dāng)前位置：文庫(kù)百科 ? 文章詳情

材料學(xué)報(bào)：原位4D揭示金屬材料的韌性斷裂破壞機(jī)理

來(lái)源：時(shí)間：2022-10-24 16:33:41 瀏覽：4563次

光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡的出現(xiàn)，使得材料微觀組織、結(jié)構(gòu)及失效機(jī)制的認(rèn)知和研究得到了極大的發(fā)展。2D顯微成像有時(shí)候并不能準(zhǔn)確展示樣品的真實(shí)結(jié)構(gòu)，因此，3D甚至4D(3D+時(shí)間)顯微表征技術(shù)越來(lái)越受到人們的重視。然而，絕大多數(shù)3D表征技術(shù)要求對(duì)樣品進(jìn)行切割或破壞，無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)完整樣品進(jìn)行原位觀察。

三維X射線顯微鏡(XRM)由于其獨(dú)特幾何和光學(xué)二級(jí)放大架構(gòu)，可以實(shí)現(xiàn)“大工作距離高分辨成像(RaaD)”，使測(cè)量和量化同一樣品在不同外部因素(如機(jī)械載荷、溫度、化學(xué)環(huán)境、氣體和流體環(huán)境等)影響下的微觀結(jié)構(gòu)變成可能。

▲配備Deben原位實(shí)驗(yàn)裝置的Zeiss X射線顯微鏡為材料分析提供4D解決方案

金屬材料的韌性斷裂破壞涉及多種破壞機(jī)制之間的協(xié)作和競(jìng)爭(zhēng)，包括微孔的成核，膨脹和穿透破壞。沿一個(gè)或多個(gè)平面剪切；頸縮或Orowan（OAS）交替滑動(dòng)導(dǎo)致中央棱柱形孔的生長(zhǎng)等。原位4D成像技術(shù)為研究金屬材料的損傷機(jī)理提供了一種直觀而可靠的方法。

01 材料學(xué)報(bào)：鎂合金分析

鎂合金是目前世界上實(shí)際應(yīng)用中最輕的金屬結(jié)構(gòu)材料。與鋼和鋁相比，它具有較高的比強(qiáng)度，但其室溫性能通常較差。這主要與以下事實(shí)有關(guān)：可以激活的滑套系統(tǒng)更少。鎂合金的失效通常發(fā)生在剪切帶，以及微孔的成核，膨脹和聚集。澳大利亞迪肯大學(xué)的Mohamadi Azghandi教授^[1]等人使用Zeiss X射線顯微鏡和數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）對(duì)不同晶粒尺寸的ZA31鎂合金在燒結(jié)過(guò)程中的3D特征和孔演化進(jìn)行了深入研究。原位拉伸。

結(jié)果表明，當(dāng)晶粒尺寸從60μm減小到3μm時(shí)，拉伸破壞應(yīng)變將增加近3倍。晶粒細(xì)化導(dǎo)致孿晶的減少，并且在第二相形成的孔的比例增加，但是總的孔生長(zhǎng)速度顯著減慢，并且孔體積分?jǐn)?shù)隨應(yīng)變的演化速度相對(duì)較慢。

研究還發(fā)現(xiàn)，隨著應(yīng)變的增加，當(dāng)空隙體積百分比達(dá)到一定的臨界值時(shí)，它將觸發(fā)剪切帶的形成并最終失效。細(xì)粒樣品中空洞的增長(zhǎng)率較低，導(dǎo)致應(yīng)變失敗的可能性更高。對(duì)于粗顆粒樣品，在三維數(shù)據(jù)上可以清楚地觀察到TD-ND平面上的傾斜剪切帶。而對(duì)于細(xì)顆粒樣品，在TD-RD平面上會(huì)出現(xiàn)類似的剪切帶。

02 材料學(xué)報(bào)：高純銅延性斷裂機(jī)理的原位研究

高純度銅的韌性斷裂機(jī)理之間的競(jìng)爭(zhēng)對(duì)材料成分和載荷條件非常敏感。純度略有變化可能會(huì)導(dǎo)致故障。此故障可能是由于孔的聚集或Orowan備用滑移（OAS）引起的。李曉東教授[2]等。運(yùn)用原位X射線顯微鏡技術(shù)對(duì)99.999％的純銅線進(jìn)行了拉伸試驗(yàn)，從材料組成，局部損傷歷史以及機(jī)理之間的協(xié)作等方面探討了純銅拉伸失效的機(jī)理。

結(jié)果表明，試樣的斷裂過(guò)程涉及一系列損傷事件，包括剪切局部化，微米級(jí)孔的生長(zhǎng)以及在聚集的孔通過(guò)交替的滑動(dòng)膨脹而失效之前形成大的中心腔。該分析表明，失敗是在多機(jī)制協(xié)作中發(fā)生的，而不是嚴(yán)格的競(jìng)爭(zhēng)。特別是，應(yīng)變?cè)诩羟袔系木植炕瘯?huì)促進(jìn)孔隙的成核并驅(qū)動(dòng)初始聚集，然后聚集會(huì)轉(zhuǎn)變?yōu)镺AS機(jī)制，而不是連續(xù)合并孔隙。X射線原位4D成像可以記錄樣品破壞過(guò)程的所有階段，包括通過(guò)OAS進(jìn)行的孔合并和單孔生長(zhǎng)，這表明不同機(jī)制之間的過(guò)渡對(duì)局部破壞特征敏感，并且可以與其他破壞機(jī)制進(jìn)行協(xié)調(diào)，改變。

03 更多應(yīng)用程序擴(kuò)展

除文獻(xiàn)中提到的鎂合金和銅外，蔡思軍還對(duì)鋁合金和鎳基合金進(jìn)行了相關(guān)的原位表征。通過(guò)原位拉伸實(shí)驗(yàn)，觀察不同變形下孔隙的分布和演化特征。結(jié)合三維可視化軟件，分析不同機(jī)械狀態(tài)下孔的體積百分比，以及孔長(zhǎng)徑比的特征。

來(lái)源：友碩

上一篇：陶瓷孔隙有多少，XRM來(lái)告訴你

下一篇：水樣檢測(cè)有哪些項(xiàng)目？水樣檢測(cè)的可測(cè)范圍盤點(diǎn)

相關(guān)文章

基礎(chǔ)理論丨一文了解XPS（概念、定性定量分析、分析方法、譜線結(jié)構(gòu)）

2020-05-03

手把手教你用ChemDraw 畫化學(xué)結(jié)構(gòu)式：基礎(chǔ)篇

2021-06-19

晶體結(jié)構(gòu)可視化軟件 VESTA使用教程（下篇）

2021-01-22

【科研干貨】電化學(xué)表征：循環(huán)伏安法詳解（上）

2019-10-25

【科研干貨】電化學(xué)表征：循環(huán)伏安法詳解（下）

2019-10-25

XRD的基本原理與應(yīng)用

2020-11-03

項(xiàng)目推薦/Project

三維X射線顯微鏡XRM（顯微CT）

熱門文章/popular

基礎(chǔ)理論丨一文了解XPS（概念、定性定量分析、分析方法、譜線結(jié)構(gòu)）

手把手教你用ChemDraw 畫化學(xué)結(jié)構(gòu)式：基礎(chǔ)篇

晶體結(jié)構(gòu)可視化軟件 VESTA使用教程（下篇）

電化學(xué)實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)之電化學(xué)工作站篇（二）三電極和兩電極體系的搭建和測(cè)試

【科研干貨】電化學(xué)表征：循環(huán)伏安法詳解（上）

【科研干貨】電化學(xué)表征：循環(huán)伏安法詳解（下）

微信掃碼分享文章

久久超碰99,91一区二区三区四区,精品捆绑调教一区二区三区,日韩国产欧美三级

<menuitem id="abb6f"></menuitem>

<dfn id="abb6f"></dfn>

舉報(bào)有獎(jiǎng)

TEL: 191-3608-6524

如：在網(wǎng)絡(luò)上惡意使用“測(cè)試狗”等相關(guān)關(guān)鍵詞誤導(dǎo)用戶點(diǎn)擊、惡意盜用測(cè)試狗商標(biāo)、冒稱官方工作人員等情形，請(qǐng)您向我們舉報(bào)，經(jīng)查實(shí)后，我們將給予您獎(jiǎng)勵(lì)。

舉報(bào)內(nèi)容：

200

上傳附件：

文件格式不正確，請(qǐng)重新上傳文件格式不正確，請(qǐng)重新上傳文件格式不正確，請(qǐng)重新上傳

文件格式：jpg、jpeg、png、gif、tif、doc、docx、ppt、pptx、xls、xlsx、pdf、zip、rar

聯(lián)系方式

姓名

電話

提交意見(jiàn)

意見(jiàn)反饋

Suggestions

您可以在此留下您寶貴的意見(jiàn)，您的意見(jiàn)或問(wèn)題反饋將會(huì)成為我們不斷改進(jìn)的動(dòng)力。

意見(jiàn)類型

測(cè)試服務(wù)

網(wǎng)站功能

財(cái)務(wù)報(bào)賬

其他類型

意見(jiàn)內(nèi)容

200

聯(lián)系方式

姓名

電話

提交意見(jiàn)

+

你好，很高興為您服務(wù)！

發(fā)送