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電子電導(dǎo)率測試原理及方法

來源：本站時間：2020-08-24 16:40:26 瀏覽：32380次

作者：漁魚遇雨

1 引言

電導(dǎo)率是導(dǎo)體及半導(dǎo)體材料的重要的電學(xué)參數(shù)之一，電導(dǎo)率的大小與材料的電性能有十分密切的關(guān)系。在光伏、電化學(xué)、儲能、導(dǎo)電聚合物等領(lǐng)域，材料電導(dǎo)率的表征幾乎是不可或缺的。在此，本文重點(diǎn)總結(jié)了材料的電子電導(dǎo)率的測試原理及方法，希望對各位同學(xué)有所幫助。

2 導(dǎo)體與電導(dǎo)率

2.1 導(dǎo)體的分類

導(dǎo)體是指電阻率很小且易于傳導(dǎo)電流的物質(zhì)。導(dǎo)體中存在大量可自由移動的帶電粒子稱為載流子。在外電場作用下，載流子作定向運(yùn)動，形成明顯的電流。根據(jù)材料導(dǎo)電時載流子種類的不同，可以把材料分為兩類：第一類導(dǎo)體和第二類導(dǎo)體。

第一類導(dǎo)體是以電子為載流子的材料，如金屬、石墨、碳材料等。在這類材料中，原子的核外價電子能輕易掙脫原子核的束縛成為自由電子，并在外加電場的作用下定向運(yùn)動，因此這類導(dǎo)體也稱為電子導(dǎo)體。這類材料在導(dǎo)電的過程中，本身不發(fā)生任何化學(xué)變化。

第二類導(dǎo)體是以離子為載流子的材料，常見的第二類導(dǎo)體主要是含電解質(zhì)的溶液或熔融態(tài)的電解質(zhì)（如NaCl水溶液），其載流子是正負(fù)離子。這類材料多為離子晶體，陰陽離子之間的結(jié)合能較高，原子的價電子難以掙脫原子核的束縛單獨(dú)運(yùn)動，只能與陰陽離子一起運(yùn)動，因此這類材料也稱為離子導(dǎo)體。

子導(dǎo)體雖然能導(dǎo)電，但其在通電過程中往往伴隨著化學(xué)變化，且有物質(zhì)的轉(zhuǎn)移，這也是其區(qū)別于電子導(dǎo)體的特征。
除了這兩類常見的導(dǎo)體外，還有一類特殊的導(dǎo)體——電離的氣體，一般稱為氣體導(dǎo)體。其原理是利用高能射線、高溫或超高電壓使氣體發(fā)生電離，形成氣態(tài)的導(dǎo)體。氣體導(dǎo)體同時含有正負(fù)離子和自由電子，常應(yīng)用于電光源制造工業(yè)。日光燈中的氬氣在高電壓的作用下發(fā)生電離產(chǎn)生弧光放電現(xiàn)象，電離后的氬氣就是一種氣體導(dǎo)體。
2.2 電導(dǎo)率

電子電導(dǎo)率測試原理及方法+參考圖1

導(dǎo)電能力，引入電導(dǎo)率的概念就更加方便

3 電子電導(dǎo)率測試原理
材料的電子電導(dǎo)率是通過測量其電阻率來確定的。根據(jù)安培公式R=U/I，通過測定通過導(dǎo)體的電流和通過導(dǎo)體的電壓降計算出導(dǎo)體的電阻，并測量出待測樣品的幾何尺寸，進(jìn)而通過公式（1）計算電導(dǎo)率。這種方法我們一般稱為直流法，直流法又包括二探針和四探針法，這類方法主要針對純電子導(dǎo)電的材料。當(dāng)測量混合導(dǎo)體時，即導(dǎo)體中含有電子和離子兩類載流子時，由于離子的導(dǎo)電性具有不可逆性，電荷轉(zhuǎn)移阻抗會影響測量，因此，直流法常常選擇離子阻塞電極，使電子導(dǎo)電率的測量更加準(zhǔn)確。
3.1 二探針直接測量法
圖1為探針科技RTS-7型二探針測試儀的儀器。大部分二探針法測量材料電導(dǎo)率的實(shí)驗(yàn)裝置原理基本類似，如圖2所示。由于測試時試樣處于兩探針之間，探針、集流體、試樣是串聯(lián)接入電路，故最終測試得到的電阻包括探針本身電阻、探針與涂層的接觸電阻、涂層電阻、涂層與集流體接觸電阻、集流體本身電阻。

圖1 RTS-7型二探針測試儀

RTS-7型二探針測試儀

該方法的缺點(diǎn)是很難得到材料本身電導(dǎo)率的絕對值，對測試本身電導(dǎo)率較高的材料具有較大的誤差。

圖2 兩探針電阻儀裝置示意圖

兩探針電阻儀裝置示意圖

除了儀器自身的誤差外，試驗(yàn)參數(shù)（施加的電流和施加的壓強(qiáng)）對最終測試的樣品電阻有較大影響。施加的電流主要對于高電阻材料（如磷酸鐵鋰）影響較小，加載電流較小時就能得到穩(wěn)定結(jié)果；而對于低電阻材料（石墨電極），加載電流相對較高才能得到穩(wěn)定結(jié)果，最終對所有測試電極選擇10 mA 的加載電流以實(shí)現(xiàn)比較穩(wěn)定的測量結(jié)果。而對于粉末活性材料，并不是對單個粉末顆粒進(jìn)行測試，而是對于整體聚集的粉末樣品，因此壓強(qiáng)對粉末樣的電導(dǎo)有較大的影響。如圖3所示，施加的壓強(qiáng)小，則樣品顆粒之間的接觸不好，導(dǎo)致電子傳導(dǎo)受阻；反之，壓強(qiáng)增大

樣品顆粒之間的接觸變得良好，電子傳導(dǎo)會增強(qiáng)，電導(dǎo)也會變大。此外，濕度和溫度也會影響材料的電導(dǎo)率。基于以上原因，粉末樣品電阻率的表述通常并非單一值，而是電阻率隨壓強(qiáng)的變化關(guān)系（表1）。

圖3 粉末樣品在不同壓力下的接觸情況

粉末樣品在不同壓力下的接觸情況

表1 粉末樣品在不同壓力下的電導(dǎo)率

粉末樣品在不同壓力下的電導(dǎo)率

3.2 四探針測量法

四探針法是在兩探針法基礎(chǔ)上的改進(jìn)，通過在電流探針之間再加上兩根探針，在很大程度上消除了接觸電阻的影響。兩探針與四探針之間的電極構(gòu)建差異可以歸納如圖4所示。在兩探針法中，測量回路和電流回路是同一回路，回路本身的電阻會對測試結(jié)果有較大影響；而在四探針法中，測量回路和電流回路則是并聯(lián)的，回路中的電阻則不會對測量結(jié)果產(chǎn)生不可忽略的影響。因此，無論樣品的電阻大小，只要其測試樣品的尺寸足夠大，則測量結(jié)果就足夠精確。此外，為了進(jìn)一步消除電壓探針本身的接觸電阻和注入效應(yīng)，四探針法還采用補(bǔ)償法來測量電壓，使電流不必通過電壓探針，從而測試的電阻較為準(zhǔn)確

圖4 二探針(上)與四探針(下)之間的電極構(gòu)建

二探針(上)與四探針(下)之間的電極構(gòu)建

圖5 任意位置的四探針(左)和直線型四探針儀(右)

任意位置的四探針(左)和直線型四探針儀(右)

電子電導(dǎo)率測試原理及方法+參考圖2

四探針說明

第二，如果測試樣涂層相對較厚，四探針法僅能得到部分涂層的電阻貢獻(xiàn)，而忽略了極片的涂層梯度，因此也無法全面表征極片電阻值。

盡管四探針測試結(jié)果也存在一定誤差，但是該方法仍是最常用的材料電導(dǎo)率測試手段。合理地運(yùn)用這些手段來分析并解決實(shí)際生產(chǎn)和科學(xué)研究中的問題，才是我們掌握這些測試技術(shù)的初衷。

4 參考文獻(xiàn)

[1] 周東祥, 潘曉光. 電子材料與元器件測試技術(shù)[M]. 華中理工大學(xué)出版社, 1994.

[2] 許潔茹, 凌仕剛, 王少飛,等. 鋰電池研究中的電導(dǎo)率測試分析方法[J]. 儲能科學(xué)與技術(shù), 2018(5): 926-955.

[3] WESTPHAL B G, MAINUSCH N, MEYER C, et al. Influence of high intensive dry mixing and calendering on relative electrode resistivity determined via an advanced two point approach[J]. Journal of Energy Storage, 2017, 11: 76-85.

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